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GB/T17574.11-2006半导体器件集成电路第2-11部分:数字集成电路单电源集成电路电可擦可编程只读存储器空白详细规范

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【纸版图书】GB/T36474-2018半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3SDRAM)测试方法

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【纸版图书】GB/T 1550-2018非本征半导体材料导电类型测试方法

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【纸版图书】T/CEMIA 023-2021半导体单晶硅生长用石英坩埚

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【纸版图书】GB/T 19629-2005医用电气设备  X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计

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【纸版图书】GB/T36005-2018半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法

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22.1 原价32.1 去抢购

GB/T5965-2000半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细规范

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【纸版图书】GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾

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【纸版图书】GB/T 37031-2018半导体照明术语

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【纸版图书】GB/T13150-2005半导体器件分立器件电流大于100A、环境和管壳额定的双向三级晶闸管空白详细规范

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【纸版图书】GB/T 11499-2001半导体分立器件文字符号

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【纸版图书】GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法

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【纸版图书】GB/T 14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

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【纸版图书】GB/T30116-2013半导体生产设施电磁兼容性要求

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19.5 原价29.5 去抢购

【纸版图书】GB/T 4937.21-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性

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【纸版图书】GB/T 4937.17-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照

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【纸版图书】GB/T 4377-2018半导体集成电路 电压调整器测试方法

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【纸版图书】GB/T 36005-2018半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法

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【纸版图书】YS/T 543-2015半导体键合用铝-1%硅细丝

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15.3 原价25.3 去抢购

【纸版图书】GB/T20522-2006半导体器件第14-3部分:半导体传感器-压力传感器

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